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BMH-J3数显薄膜测厚仪:本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。 尤其适用于薄膜 ,是实验室常用的检测工具。 技术参数: 本品测量范围:(0-25)mm 分 辨 率:0.001mm 测厚仪工作温度: 0℃~+40℃ 储运温度:-20℃~+70℃ 环境相对湿度: ≤80%
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